Analýza a dokumentácia

Technická dokumentace

Komplexní analýza a kompletní dokumentace jsou základem pro opravu vaší ultrazvukové sondy certifikované podle normy ISO 13485.

Analýza závad ultrazvukových sond

Analýza sond ve společnosti Ortner zahrnuje širokou škálu testovacích a analytických postupů. To znamená, že i skryté chyby v ultrazvukových sond lze odhalit včas, dříve než vedou ke ztrátě kvality nebo úplnému selhání. Základem pro certifikovanou opravu vašich ultrazvukových sond podle normy ISO 13485 je komplexní analýza a dokumentace.

Eine umfassende Analyse sowie eine lückenlose Dokumentation ist die Basis für unsere nach ISO 13485 zertifizierten Reparatur Ihrer Ultraschallsonde.

Standard Probe Performance Measurement – SPPM

;

Víceúčelový fantom

Pro kontrolu kvality a údržbu ultrazvukových sond

  • Měření hloubky penetrace
  • Detekce neechogenních bodů
  • Určování různých cílů ve stupních šedi
  • Vhodné pro všechny hlavy: lineární, kardio, konvexní a TEE

Testování přímo na ultrazvukovém přístroji

Rozsáhlé portfolio ultrazvukových zařízení všech výrobců

  • Testování defektů krystalů
  • Testování poruchy kabelu
  • Testování Color Doppler, tkáňový Doppler, analýza CW-, PW-, M-módu

Leakage Test

Elektrická bezpečnostní kontrola

  • Přímé měření svodového proudu pacienta
  • Diagnostika prošla/neprošla
  • Lze provádět nezávisle na všech ultrazvukových sondách bez ohledu na výrobce

Test vzorek C-10

Měření zbytkového proudu u sond TEE

  • Přímé měření svodového proudu pacienta
  • Automatizovaný proces dezinfekce TEE sond
  • Testovací protokol a dokumentace procesu po každém spuštění

Advanced Probe Performance Measurement – APPM

;

Capa­citance Measure­ment 

Analýza stavu senzorů

Ultrazvuková sonda se skládá z mnoha jednotlivých prvků, koaxiálních kabelů a výkonové elektroniky. Během měření kapacity se měří celková statická kapacita, která poskytuje informace o stárnutí a stavu sondy.

Trans­mission Crosstalk Measure­ment 

Měření vlivu Crosstalk

Tato metoda měření může být použita k identifikaci možného poškození mechanické struktury piezokrystalů. Například oxidační poškození sondy lze zjistit v raném stádiu.

Intrinsic Charact­eristics Measure­ment 

Komplexní analýza vnitřních senzorů a komponentů

  • X (f) Normalized Loop Frequency Response
  • X (t) Normalized Loop Time Response
  • S-Loop (f) Wideband Loop Sensitivity
  • B (t) Optimum Drive Waveform Signal
  • S-LC Characteristic Loop Sensitivity

Echo Measure­ment 

Analýza proměnlivého echa

  • B (t) Referenční řídicí signál
  • V e (t) Echo zesílení
  • IG e Echo zosilnenie
  • RE e (f) Relativní energetické spektrum ozvěny