Analiza i dokumentacja

Doku­menta­cja techniczna

Obszerna analiza wejścia i wyjścia głowic USG – na podstawie certyfikatu ISO 13485

Analiza uszkodzeń w głowicach USG

Diagnostyka głowicy w firmie ORTNER obejmuje szeroki zakres procesów diagnostyki i testowania. Dzięki przeprowadzeniu dokładnej analizy głowicy można w porę wykryć uszkodzenia, zanim doprowadzą one do kosztownej naprawy.

Kompleksowa analiza wstępna i kompletna dokumentacja na podstawie certyfikatu ISO 13485 jest podstawą dla skutecznej naprawy Państwa głowic.

technician-with-probe-analyzer-<br />

Standard Probe Performance Measurement – SPPM

;
Multipurpose Ultrasound Phantom

Fantom wielofunkcyjny

Do kontroli jakości i oceny głowic ultrasonograficznych

  • Pomiar głębokości penetracji
  • Przechwytywanie punktów nieechogenicznych
  • Oznaczanie skali szarości
  • Nadaje się do wszystkich głowic: liniowych, kardio, konweksowych i TEE
Live-test bezpośrednio na aparacie USG<br />

Live-test bezpośrednio na aparacie USG

Szeroka gama aparatów USG wszystkich producentów

  • Sprawdzanie uszkdozenia kryształów
  • Sprawdzanie elektroniki kabla
  • USG Color Doppler, Doppler tkankowy, analiza CW, PW, M-modusu

Test na upływ prądu (Leakage Test)

Kontrola bezpieczeństwa elektrycznego

  • Bezpośredni pomiar natężenia prądu przez pacjenta
  • Diagnostyka: zdany/niezdany
  • Można go wykonać na wszystkich głowic USG niezależnie od producenta

Tester głowic C-10

Pomiar uszkodzeń elektrycznych w głowicach TEE

  • Bezpośredni pomiar natężenia prądu przez pacjenta
  • Zautomatyzowana procedura dezynfekcji głowic TEE
  • Raport z badań i dokumentacja procesu po każdym uruchomieniu

Advanced Probe Performance Measurement – APPM

;

Capacitance Measurement 

Analiza stanu sensorycznego

Głowica USG składa się z dużej liczby pojedynczych elementów, kabli koncentrycznych i energoelektroniki. Podczas pomiaru pojemności mierzona jest całkowita pojemność statyczna, która dostarcza informacji o jakości i stanie głowicy.

Transmission Crosstalk Measurement 

Mierzenie wpływu diafonii

Taka metoda pomiaru może być wykorzystana do stwierdzania ewentualnych uszkodzeń struktury mechanicznej piezokryształów. W ten sposób na wczesnym etapie można wykryć np. uszkodzenia spowodowane oksidacją w głowicy.

Intrinsic Characteristics Measurement 

Kompleksowa analiza wewnętrznych czujników i komponentów

  • X (f) Znormalizowana reakcja częstotliwości pętli
  • X (t) Znormalizowana czasowa reakcja pętli
  • S-loop (f) Czułość pętli szerokopasmowej
  • B (t) Optymalny sygnał fali sterującej
  • S-LC Charakterystyczna czułość pętli

Echo Measurement 

Zmienna analiza sygnału echa

 

  • B (t) Sygnał odniesienia napędu
  • V e (t) sygnał echa
  • IG e Wstawienie wzmocnienia echa
  • RE e (f) Względne widmo energii echa